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蔡司工業CT
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Xradia 510 Versa顯微鏡使用兩級放大技術,實現大工作距離下的高分辨率(RaaD)。首先,樣品圖像與傳統微米 CT 一樣進行幾何放大。在第二級,閃爍器將 X 射線轉換為可見光,然后進行光學放大。Xradia Versa 解決方案降低了對幾何放大的依賴性,因此可在大工作距離下保持亞微米高分辨率,使得對各種尺寸的樣品和原位樣品艙內的樣品進行高效研究成為可能。
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